1、HD-175型活度計技術(shù)指標
l 測量核素：190個；
l 相對基本誤差：±2.2%；
l 長期穩(wěn)定性：±0.12%；
l 分辨率：1KBq(0.03μCi)；
l 重復性：±0.12%；
l 量程：3.7KBq—370GBq；
l 低能探測限：13KeV；
l 測量時間：1-13s，可連續(xù)測量。
2、高壓電離室結(jié)構(gòu)特點
l 電離室坪斜：0.008%；
l 噪聲電流：±2×10^-14 A；
l 噪聲本底(⁶⁰Co)：1KBq。
3、單片機配置型
l 單片機、液晶屏、12位A/D；
l 232口與Pc機通訊、寬行高速微打；
l 核素活度、遞衰活度及半衰期測量；
l 監(jiān)督源校正、時間換算和參數(shù)查詢；
l 自動換檔和扣除本底。
4、Pc機配置型 
l Pc機、12位A/D；
l 核素活度和遞衰活度測量；
l 監(jiān)督源校正、時間換算和參數(shù)查詢；
l 半衰期測量和誤差計算；
l 最小二乘法計算斜率、截距和標準偏差。

5、靈敏度和井深軸向曲線